MEMS探针

微机电(MEMS)探针

  • 用于倒装芯片(Flip Chip)、系统级芯片(SOC) & 逻辑芯片(Logic Device)、 单片机(MCU)等晶圆量产阶段高效（高密度、高待测物(DUT)数）测试
  • 先进的MEMS探针应对不同待测物体的测试盘(PAD)和凸点(BUMP)
  • 更小探针截面积、间距(Pitch)
  • 更高同待测物(DUT)数、更高效测试
  • 订制多种规格探针
  • 单针容易更换，良好的维护性能
  • 针痕小、接触稳定