半导体测试探针主要用于芯片设计验证、晶圆测试、成品测试环节，是连通芯片、晶圆与测试设备进行信号传输的核心零部件，通过与测试机、分选机、探针台配合使用，筛选出设计缺陷和制造缺陷产品，相当于测试机台的“手”。在确保产品良率、控制成本、指导芯片设计和工艺改进等方面具有重要价值。晶圆测试的目标是确保这些元件能够正常工作，从而提前排除可能存在的缺陷，减少后续封装和测试阶段的成本和风险。
随着半导体技术的不断发展，应用的不断拓展，未来，探针卡将更加精确和灵敏，可以检测更小的芯片和更微小的电信号。同时，探针卡也将更加多样化和可定制化，以适应不同芯片和应用场景的需求。