MEMS探针 1、用于 Flip Chip、SOC & Logic Device、 MCU等晶圆量产阶段高效（高密度、高同测DUT数）测试2、先进的MEMS探针应对不同待测物体的PAD 和BUMP3、多PIN数，最高达30000pins4、更小Pad size、Pitch5、更高同测DUT数、更高效测试6、客供多种规格探针选用7、单针容易更换，良好的维护性能8、划痕小、接触稳定
